日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXI和X-Strata系列
日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀簡介：
微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內廣泛接受認可的分析方法，日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品。
日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀應用：
■微焦斑 XRF 光譜儀應用于 PCB、半導體和電子行業(yè)
▲PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552A測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續(xù)運營，確保高質量并避免昂貴的返工。
▲電力和電子組件的電鍍
零件必須在規(guī)格范圍內被電鍍，以達到預期的電力、機械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產品 ，可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品，從而達到 引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。
▲IC 載板
半導體器件越來越小巧而復雜，需要分析設備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析，及重復性好的數(shù)據(jù)。
▲服務電子制造過程 （EMS、ECS）
結合 采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點，實現(xiàn)從進廠檢查到生產線流程控制，再到*終質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和*終產品，確保每個階段的質量。
▲光伏產品
對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性，從而確保*高效率。
▲受限材料和高可靠性篩查
與復雜的全球供應鏈合作，驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術，根據(jù)IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求，確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和**領域。
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X-Strata920 |
X-Strata920 |
FT110A |
MAXXI 6 |
FT150高分辨率 SDD毛細管聚焦光學系統(tǒng) |
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ENIG |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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ENEPIG |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552) |
無 |
★★☆ |
無 |
★★★ |
★★★ |
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非電鍍鎳厚度 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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浸鍍銀 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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浸鍍錫 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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HASL |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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無鉛焊料（如 SAC) |
★☆☆ |
★★☆ |
★☆☆ |
★★★ |
★★★ |
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CIGS |
無 |
★★☆ |
無 |
★★★ |
★★★ |
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CdTe |
無 |
★★☆ |
無 |
★★★ |
★★★ |
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納米級薄膜分析 |
無 |
★★☆ |
無 |
★★★ |
★★★ |
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多層分析 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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IEC 62321 RoHS 篩選 |
無 |
無 |
無 |
★★★ |
無 |
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檢測特征 < 50 μm |
無 |
無 |
無 |
無 |
★★★ |
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模式識別軟件 |
無 |
無 |
★★★ |
無 |
★★★ |
■微焦斑XRF光譜儀應用于金屬表面處理
▲耐腐蝕性
檢驗所用涂層的厚度和化學性質，以確保產品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。
▲耐磨性
通過確保磨蝕環(huán)境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度，預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。
▲裝飾性表面
當目標是實現(xiàn)無瑕表面時，整個生產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備，您可以可靠地檢測基材，中間層和頂層厚度。
▲耐高溫
在極端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規(guī)格、避免產品召回和潛在的災難性故障。
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X-Strata920正比計數(shù)器 |
X-Strata920高分辨率SDD |
FT110A正比計數(shù)器 |
MAXXI 6高分辨率SDD |
FT150 高分辨率SDD |
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Zn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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ZnNi / Fe, Fe 合金 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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NiP / Fe |
★★☆ |
★★☆ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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Ag / Cu |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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Cr / Ni / Cu / ABS |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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Au / Pd / Ni /CuZn |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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WC / Fe, Fe 合金 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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納米級薄膜分析 |
無 |
★★☆ |
無 |
★★★ |
★★★ |
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多層分析 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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IEC 62321 RoHS 篩選 |
無 |
無 |
無 |
★★★ |
無 |
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DIM可變焦測試系統(tǒng) |
無 |
無 |
★★★ |
無 |
無 |
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模式識別軟件 |
無 |
無 |
★★★ |
無 |
無 |
日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀產品型號：
1、X-Strata920
→正比計數(shù)器或高分辨率 SDD
→元素范圍：鈦 - 鈾，或鋁 - 鈾（SDD）
→樣品艙設計：開槽式
→XY 軸樣品臺選擇： 固定臺、加深臺、自動臺
→*大樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米
→*大數(shù)量準直器：6
→濾光片：1
→*小的準直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
→SmartLink 軟件
2、FT110A
¨正比計數(shù)器系統(tǒng)
¨元素范圍：鈦 - 鈾
¨樣品艙設計：開閉式或開槽式
¨XY 軸樣品臺選擇： 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺
¨*大樣品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
¨*大數(shù)量準直器：4
¨濾光片：1
¨*小的準直器：0.05 毫米
¨X-ray Station 軟件
3、MAXXI 6
?高分辨率 SDD
?元素范圍： 鋁 - 鈾
?樣品艙設計：開槽式
?XY 軸樣品臺選擇：固定臺、自動臺
?*大樣品尺寸：500 x 450 x 170毫米
?*大數(shù)量的準直器：8
?濾光片：5
?*小的準直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)
?SmartLink 軟件
4、FT150
?高分辨率 SDD
?元素范圍： 鋁 - 鈾
?樣品艙設計：開閉式
?XY 軸樣品臺選擇：自動臺、晶片樣品臺
?*大樣品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
?濾光片：1 或 3
?毛細聚焦管 < 20 μm
?XRF控制軟件
